期刊簡介

《X 射線光譜法》致力于快速發表有關使用電子、X 射線光子、質子、γ 和 γ-x 源的 X 射線光譜法理論和應用的論文。

這本知名期刊涵蓋了技術、方法和設備的進步，為討論更復雜的 X 射線分析方法提供了理想的平臺。

涵蓋了波長和能量色散系統以及一系列數據處理方法，從最簡單到非常復雜的軟件程序。還介紹了有關 X 射線光譜法在結構分析中的應用的論文以及涵蓋環境分析和監測、藝術和考古研究、礦物學、法醫學、地質學、表面科學和材料分析、生物醫學和制藥應用等廣泛領域的應用論文。

X 射線光譜法創刊于1972年，由John Wiley and Sons Ltd出版社出版。其研究的主題領域包括但不限于物理-光譜學，是一本在物理與天體物理領域具有重要影響力的國際期刊。該期刊涵蓋了物理與天體物理的多個子領域，旨在全面理解和解決物理與天體物理問題。

根據最新的數據，X 射線光譜法的影響因子為1.5，CiteScore為3.1，h-index為40，SJR為0.27，SNIP為0.671，中科院分區為4區，這些指標均顯示了該期刊在物理與天體物理領域的優秀地位。

該刊以Multi-Language作為出版語言。對于Multi-Language非母語的作者，期刊建議使用語言編輯服務，以確保文稿的語法和拼寫錯誤得到糾正，并符合科學Multi-Language的標準。如果想實現快速順利的投稿發表，建議您聯系本站的客服團隊，將為您提供專業的選刊建議，并在整個投稿過程中提供細致的指導。