期刊簡介

《電子測試：理論與應用雜志》是傳播電子測試領域研究和應用信息的國際論壇。這是唯一一本專門針對電子測試的雜志。《電子測試：理論與應用雜志》上發表的論文經過同行評審，以確保原創性、及時性和相關性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業人員。雖然它強調發表珍貴的未發表材料，但需要更廣泛曝光的優秀會議論文，只要符合該雜志的同行評審標準，編輯也會酌情發表。 《電子測試：理論與應用雜志》還尋求清晰的調查和評論文章，以促進對最新技術的更好理解。

《電子測試：理論與應用雜志》的報道包括但不限于以下主題：

VLSI 設備印刷電路板和電子系統的測試；

模擬和數字電子電路的測試；

微處理器、存儲器和信號處理設備的測試；

故障建模；

測試生成；

故障模擬；

可測試性分析；

可測試性設計；

可測試性綜合；

內置自測試；

測試規范；

容錯；

形式驗證硬件；

驗證模擬；

設計調試；

測試和診斷的人工智能方法和專家系統；

自動測試設備（ATE）；

測試夾具；

電子束測試系統；

測試編程；

測試數據分析；

測試經濟性；

質量和可靠性；

CAD 工具；

晶圓級集成器件測試；

可靠系統測試；

制造良率和良率改進設計；

故障模式分析和工藝改進

電子測試理論與應用雜志創刊于1990年，由Springer US出版社出版。其研究的主題領域包括但不限于工程：電子與電氣-工程技術，是一本在工程技術領域具有重要影響力的國際期刊。該期刊涵蓋了工程技術的多個子領域，旨在全面理解和解決工程技術問題。

根據最新的數據，電子測試理論與應用雜志的影響因子為1.1，CiteScore為2，h-index為31，SJR為0.271，SNIP為0.518，中科院分區為4區，這些指標均顯示了該期刊在工程技術領域的優秀地位。

該刊以English作為出版語言。對于English非母語的作者，期刊建議使用語言編輯服務，以確保文稿的語法和拼寫錯誤得到糾正，并符合科學English的標準。如果想實現快速順利的投稿發表，建議您聯系本站的客服團隊，將為您提供專業的選刊建議，并在整個投稿過程中提供細致的指導。