出版商：Elsevier Ltd
出版語言：English
出版地區(qū)：ENGLAND
出版周期：Monthly
ISSN：0026-2714
E-ISSN：1872-941X
創(chuàng)刊時間：1964
是否OA：未開放
是否預(yù)警：否
大類學(xué)科：工程技術(shù)
小類學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
年發(fā)文量：310
研究類文章占比：98.39%
Gold OA文章占比：14.36%
中科院 2023年12月升級版：中科院分區(qū)4區(qū) 大類學(xué)科：工程技術(shù)
收稿方向：工程技術(shù)-工程：電子與電氣
學(xué)術(shù)咨詢：預(yù)計審稿周期： 較快,2-4周 約8.3周 影響因子：1.6 CiteScore：3.3
選定期刊
支付定金
確認(rèn)完成服務(wù)
支付尾款
《微電子可靠性》致力于傳播微電子設(shè)備、電路和系統(tǒng)可靠性的最新研究成果和相關(guān)信息，涵蓋材料、工藝和制造、設(shè)計、測試和操作等各個方面。該期刊涵蓋以下主題：測量、理解和分析；評估和預(yù)測；建模和仿真；方法和緩解。將可靠性與微電子工程其他重要領(lǐng)域（如設(shè)計、制造、集成、測試和現(xiàn)場操作）相結(jié)合的論文也將受到歡迎，并且特別鼓勵報告該領(lǐng)域和特定應(yīng)用領(lǐng)域案例研究的實踐論文。
大多數(shù)被接受的論文將以研究論文的形式發(fā)表，描述重大進(jìn)展和已完成的工作。回顧普遍感興趣的重要發(fā)展主題的論文可能會被接受作為評論論文發(fā)表。更初步的緊急通訊和關(guān)于當(dāng)前感興趣的已完成實踐工作的簡短報告可能會被考慮作為研究筆記發(fā)表。所有投稿均需經(jīng)過該領(lǐng)域頂尖專家的同行評審。
微電子可靠性創(chuàng)刊于1964年，由Elsevier Ltd出版社出版。其研究的主題領(lǐng)域包括但不限于工程技術(shù)-工程：電子與電氣，是一本在工程技術(shù)領(lǐng)域具有重要影響力的國際期刊。該期刊涵蓋了工程技術(shù)的多個子領(lǐng)域，旨在全面理解和解決工程技術(shù)問題。
根據(jù)最新的數(shù)據(jù)，微電子可靠性的影響因子為1.6，CiteScore為3.3，h-index為80，SJR為0.394，SNIP為0.801，中科院分區(qū)為4區(qū)，這些指標(biāo)均顯示了該期刊在工程技術(shù)領(lǐng)域的優(yōu)秀地位。
該刊以English作為出版語言。對于English非母語的作者，期刊建議使用語言編輯服務(wù)，以確保文稿的語法和拼寫錯誤得到糾正，并符合科學(xué)English的標(biāo)準(zhǔn)。如果想實現(xiàn)快速順利的投稿發(fā)表，建議您聯(lián)系本站的客服團隊，將為您提供專業(yè)的選刊建議，并在整個投稿過程中提供細(xì)致的指導(dǎo)。
*期刊發(fā)文量是一個量化的指標(biāo)，用于衡量期刊的出版活動和學(xué)術(shù)影響力。
*綜述文章是一種特定的學(xué)術(shù)文體，專門用來回顧和總結(jié)某一領(lǐng)域或主題的現(xiàn)有研究成果和理論進(jìn)展。
*發(fā)文量和綜述量都在學(xué)術(shù)出版中都扮演著重要的角色，但關(guān)注的焦點和目的不同。
| 學(xué)科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 大類：Engineering 小類：Safety, Risk, Reliability and Quality | Q2 | 83 / 207 |
60% |
| 大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering | Q2 | 395 / 797 |
50% |
| 大類：Engineering 小類：Atomic and Molecular Physics, and Optics | Q3 | 118 / 224 |
47% |
| 大類：Engineering 小類：Condensed Matter Physics | Q3 | 230 / 434 |
47% |
| 大類：Engineering 小類：Surfaces, Coatings and Films | Q3 | 74 / 132 |
44% |
| 大類：Engineering 小類：Electronic, Optical and Magnetic Materials | Q3 | 161 / 284 |
43% |
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
*中科院期刊分區(qū)表是中國科研界廣泛認(rèn)可的期刊評價體系，是由中國科學(xué)院文獻(xiàn)情報中心科學(xué)計量中心編制的一套期刊評價體系,在中國的科研界具有較高的認(rèn)可度和影響力，常被用作科研項目評審、職稱評定、學(xué)術(shù)評價等方面的參考依據(jù)。
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 239 / 352 |
32.2% |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 113 / 140 |
19.6% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 131 / 179 |
27.1% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 272 / 354 |
23.31% |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 114 / 140 |
18.93% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 140 / 179 |
22.07% |
該期刊是一本由Elsevier Ltd出版社出版的學(xué)術(shù)期刊，屬于JCR分區(qū)中學(xué)科領(lǐng)域的區(qū),學(xué)科領(lǐng)域的區(qū),學(xué)科領(lǐng)域的區(qū)期刊，中科院分區(qū)為工程技術(shù)學(xué)科領(lǐng)域4區(qū)。該期刊的ISSN為0026-2714，近一年未被列入預(yù)警期刊名單，是一本國際優(yōu)秀期刊。
該期刊涉及的研究領(lǐng)域是工程技術(shù)-工程：電子與電氣，在中科院分區(qū)表中大類學(xué)科為Elsevier Ltd，小類學(xué)科為Elsevier Ltd，在準(zhǔn)備向該期刊投稿時，請確保您的研究內(nèi)容與期刊的研究領(lǐng)域緊密相關(guān)至關(guān)重要。
Microelectronics Reliability期刊2023年的影響因子是1.6，2022年的影響因子是1.6，該期刊審稿周期預(yù)計需要約 較快,2-4周 約8.3周，為了確保您的投稿過程順利進(jìn)行，請合理規(guī)劃時間投稿。
期刊選刊建議、論文格式校對、投稿策略規(guī)劃、投稿流程咨詢、投稿后跟進(jìn)。請注意，我們提供的是信息支持和咨詢服務(wù)，并不涉及任何形式的學(xué)術(shù)不端行為，如代寫或代投稿。我們的目標(biāo)是幫助您以合規(guī)和專業(yè)的方式完成投稿。
若用戶需要出版服務(wù)，請聯(lián)系出版商：PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB。
